2025년 표면화학분석 분야(TC 201) 국가표준(KS) 개발 수요조사


KOTITI시험연구원은 표면화학분석 분야(TC201)의 표준개발협력기관(COSD)으로해당 분야 국가표준(KS)의 개발 및 관리 업무를 수행하고 있습니다.

 

이에 2025년 표면화학분석 분야 국가표준 개발(제정개정확인폐지사업을 수행하기 위한 수요조사를 다음과 같이 실시하고자 합니다.

 

 

개요

1) 수요조사 기간 : 2025.01.17.() ~ 2025.02.28.()

2) 수요조사 내용

   가표면화학분석 분야 국가표준 개발 관련 의견

   나) ISO 담당 기술분야(TC 201) 국제표준 도입 관련

   다표준화 활성화를 위한 홍보·인식제고 및 역량강화·교육 관련 의견

3) 수요조사 대상 표면화학분석 분야 국가표준 이해관계자 (개인단체 등)

 

 

기술위원회 위원 및 표준 작업반 모집

1) 모집 기간 : 2025.01.17.() ~ 2025.02.28.()

2) 모집 분야 표면화학분석 분야와 관련하여 학계산업계연구소 등 관련 기관에 소속된 기술 및 표준 이해자

3) 대상 표준

No.

분야

표준번호

표준명

버전

1

제정

ISO 18115-3:2022

Part 3: Terms used in optical interface analysis

2022

2

ISO 20579-1:2024

Surface chemical analysis — Sample handling, preparation and mounting — Part 1: Documenting and reporting the handling of specimens prior to analysis

2024

3

ISO 17862:2022

Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

2022

4

개정

KS D ISO 15470

표면화학분석 ― X선 광전자 분광법 ― 선택한 기기의 성능 파라미터 설명

2004

5

KS D ISO 15471

 

표면화학분석 ― 오제전자 분광법 ― 선택한 기기 성능의 파라미터 설명

2004

 

6

KS D ISO 18114

표면화학분석 ― 이차이온 질량 분광분석법 ― 이온 주입된 기준물질로부터 상대감도인자의 결정

2003

7

KS D ISO 18118

표면화학분석 ― 오제전자 분광법과 X선 광전자 분광법 ― 균질재료의 정량분석을 위해 실험으로 결정된 상대감도인자의 사용 지침

2004

8

KS D ISO 19318

표면화학분석 ― X선 광전자 분광법 ― 전하제어와 전하교정에 사용하는 방법의 보고

2004

 

9

확인

KS D ISO 19319

표면화학분석 ― 오제전자 분광법과 X선 광전자 분광법 ― 측면분해능분석영역분석기로 측정한 시료범위의 결정

2003

10

KS D ISO 20341

표면화학분석 ― 이차이온 질량분광분석법 ― 다중 델타층 기준물질을 이용하여 깊이 분해능 파라미터를 평가하는 방법

2003

11

KS D ISO 21270

표면화학분석 ― X선 광전자 및 오제 전자 분광계 ― 세기 눈금의 직선성

2004

12

KS D ISO 19319

표면화학분석 ― 정적 이차이온 질량 분광분석법의 정보 포맷

2003

 

 

접수 방법

1) ‘TC 201 KS 표준 수요조사 제안서’, ‘TC 201 기술위원 신청서’ 작성 후 전자메일로 송부 (붙임 참조)

2) 전자메일: kim_ys@kr.kotiti-global.com

3) 문의: KOTITI시험연구원 첨단융합산업본부 김영실 책임연구원 (02-6191-6183)

 

 

표면화학분석 분야 국가표준의 발전을 위하여 많은 관심과 참여 부탁드립니다.

감사합니다.